近日，繼 2025年9月啟動(dòng)飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）國(guó)產(chǎn)化產(chǎn)線后，雪迪龍?jiān)賯鹘輬?bào)！雪迪龍飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀成功中標(biāo)某高校質(zhì)譜采購(gòu)項(xiàng)目，用于肽及蛋白質(zhì)水解復(fù)雜產(chǎn)物表面成分分析。此次中標(biāo)不僅是市場(chǎng)對(duì)雪迪龍硬核技術(shù)實(shí)力的高度認(rèn)可，更標(biāo)志著公司在高端科學(xué)儀器布局、核心技術(shù)自主可控的征程上邁出堅(jiān)實(shí)一步，對(duì)保障關(guān)鍵領(lǐng)域供應(yīng)鏈安全、推動(dòng)國(guó)產(chǎn)儀器自主創(chuàng)新具有重要意義。

TOF-SIMS作為半導(dǎo)體、生命科學(xué)等關(guān)鍵領(lǐng)域的核心材料表面分析工具，因技術(shù)復(fù)雜度高、研發(fā)周期長(zhǎng)、投入強(qiáng)度大，長(zhǎng)期被少數(shù)跨國(guó)企業(yè)壟斷，是高精尖科學(xué)儀器核心產(chǎn)品之一，公司后期會(huì)持續(xù)進(jìn)行技術(shù)創(chuàng)新，產(chǎn)學(xué)研協(xié)同，推動(dòng)設(shè)備性能升級(jí)與技術(shù)自主可控，全面對(duì)標(biāo)國(guó)際先進(jìn)水平，為國(guó)產(chǎn)儀器突破注入強(qiáng)勁動(dòng)力。

什么是飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）是將飛行時(shí)間檢測(cè)技術(shù)與二次離子質(zhì)譜技術(shù)相結(jié)合的新型高端表面分析技術(shù)。該技術(shù)兼具高分辨率、高靈敏度、精確質(zhì)量測(cè)定等核心優(yōu)勢(shì)，已成為高端技術(shù)領(lǐng)域的關(guān)鍵分析手段，憑借質(zhì)譜分析、二維成像、深度剖析三大核心功能，廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、細(xì)胞學(xué)、地質(zhì)礦物學(xué)、微電子、材料化學(xué)、納米科學(xué)、生命科學(xué)等多個(gè)前沿領(lǐng)域。

其核心工作原理如下：離子源發(fā)射的離子束作為一次離子源，經(jīng)一次離子光學(xué)系統(tǒng)聚焦與傳輸后，精準(zhǔn)轟擊樣品表面；樣品表面受濺射后產(chǎn)生二次離子，系統(tǒng)對(duì)二次離子進(jìn)行提取與聚焦，隨后送入離子飛行系統(tǒng)；在飛行系統(tǒng)中，不同質(zhì)荷比（m/z）的二次離子因飛行速度差異實(shí)現(xiàn)分離，通過(guò)對(duì)分離后的離子進(jìn)行檢測(cè)，即可完成樣品相關(guān)特性分析。

TOF-SIMS通過(guò)整合二次離子質(zhì)譜的成分分析能力與飛行時(shí)間器的分離優(yōu)勢(shì)，顯著提升了樣品元素成分及分布檢測(cè)的準(zhǔn)確性。該技術(shù)兼具高橫向/縱向分辨率與高質(zhì)譜靈敏度，可實(shí)現(xiàn)元素、同位素、分子等多維度信息的精準(zhǔn)分析。這一獨(dú)特優(yōu)勢(shì)使其成為表面分析領(lǐng)域的主流技術(shù)，能夠提供能量色散X射線光譜（EDX）、俄歇電子能譜（AES）、X射線光電子能譜（XPS）等傳統(tǒng)技術(shù)無(wú)法覆蓋的專屬元素信息，為前沿科研與工業(yè)檢測(cè)提供核心技術(shù)支撐。